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透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對于真空度要求的限制,在一個*封閉的氣體系統(tǒng)中,研究透射電鏡內(nèi)的氣相反應(yīng)過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應(yīng)情況。并結(jié)合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動態(tài)的,實時的觀察原子級別的固氣反應(yīng)。同時,該樣品桿可以真正在透射電鏡中進行密閉腔室的EDS元素分析??捎脷怏w種類:氫氣、氮氣、氧氣、氬氣、氨氣等多
查看更多二維材料轉(zhuǎn)移臺是一種重要的設(shè)備,主要用于二維材料的精確轉(zhuǎn)移和定位。準備階段:確保二維材料轉(zhuǎn)移臺放置在穩(wěn)定的工作臺上,避免振動和干擾。檢查電源和連接線路,確保設(shè)備正常供電。根據(jù)需要選擇合適的二維材料和目標(biāo)基底。安裝和固定基底:使用雙面膠帶或真空泵將目標(biāo)基底固定在襯底固定臺上。確?;坠潭ɡ喂?,避免在轉(zhuǎn)移過程中發(fā)生移動。對準和定位:通過顯微鏡觀察,找到Si襯底上的電極圖案或已經(jīng)轉(zhuǎn)移好的二維材料。將目標(biāo)位置固定在顯微鏡視野中央,以便進行精確轉(zhuǎn)移。二維材料的轉(zhuǎn)移:使用PDMS(聚二甲...
了解更多全自動臺階儀的測量精度和重復(fù)性是評估其性能的重要指標(biāo)。通常,測量精度要求全自動臺階儀能夠準確地測量出微小的高度差,而重復(fù)性則要求其能夠保證測量結(jié)果的穩(wěn)定性。為了評估全自動臺階儀的測量精度,可以采用已知準確高度的標(biāo)準樣品進行測試,并比較測量結(jié)果與標(biāo)準樣品的實際高度差。此外,可以通過多次重復(fù)測量同一樣品的高度,計算測量結(jié)果的平均值和標(biāo)準差,以評估全自動臺階儀的重復(fù)性。在實際應(yīng)用中,全自動臺階儀的測量精度和重復(fù)性受到多種因素的影響,如儀器的設(shè)計、制造工藝、操作環(huán)境、操作人員技能等。...
了解更多半自動臺階儀可以測量材料的表面形貌,包括表面粗糙度、波紋度、臺階高度等參數(shù),用于研究材料的表面特性??梢詼y量薄膜的厚度,對于半導(dǎo)體、光電子、微電子等領(lǐng)域的研究和生產(chǎn)具有重要意義??梢詸z測材料表面的缺陷,如裂紋、劃痕、凹槽等,用于產(chǎn)品質(zhì)量控制和失效分析。半自動臺階儀在半導(dǎo)體行業(yè)中的優(yōu)勢:1.高精度測量:半自動臺階儀采用測量技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的測量結(jié)果,滿足半導(dǎo)體行業(yè)對表面形貌和尺寸精度的嚴格要求。2.高效測量:半自動臺階儀采用自動化測量方式,能夠快速、準確地測量半導(dǎo)體表面的臺...
了解更多數(shù)字圖像處理技術(shù)已廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。其中,桌面型掃描電鏡作為一款強大的微觀觀測工具,在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。在數(shù)字化時代,如何利用它的數(shù)字圖像處理技術(shù),提高觀測的準確性和效率,成為了重要問題。一、數(shù)字圖像處理技術(shù)概述桌面型掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面產(chǎn)生信號的顯微鏡。它具有較高的分辨率和放大倍數(shù),能夠清晰地觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)。數(shù)字圖像處理技術(shù)是重要組成部分,它通過對采集到的圖像進行一系列算法處理,如去噪、增強、分割等操作,提取出有用的信...
了解更多納米力學(xué)臺是一種高精度的材料性能測試工具,主要用于研究材料的力學(xué)性能和變形行為,包括納米材料、生物材料、復(fù)合材料等各種材料的力學(xué)性能??梢杂糜跍y試材料的彈性模量、屈服強度、斷裂強度等力學(xué)性能,幫助研究者深入理解材料的性質(zhì)和行為??梢栽挥^察和記錄納米材料的力學(xué)性能,結(jié)合掃描電鏡等其他測試手段,可以深入研究材料的變形行為和微觀失效機制。好處:1.精度高:可以用于研究納米級的力學(xué)行為,定位精度達到納米級別,對于材料的力學(xué)性能分析具有很高的精度。2.穩(wěn)定性好:具有很高的運動控制精度...
了解更多原位掃描電鏡(SEM)的應(yīng)用原理主要是利用電子成像來觀察樣品的表面形貌。當(dāng)一束極細的高能電子束在試樣上掃描時,與試樣相互作用產(chǎn)生各種物理信息,如二次電子、背散射電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、透射電子等。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測試試樣表面形貌的觀察。SEM的分辨率高于光學(xué)顯微鏡的分辨率,因為電子的波長遠小于光的波長。此外,SEM還可以進行樣品表面的元素分析,如C、S、N等元素的分布情況。在具體應(yīng)用中,原位掃描電鏡可以用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究和...
了解更多納米力學(xué)臺的主要工作原理是結(jié)合掃描電鏡進行動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為。它集成了壓電驅(qū)動四軸樣品臺及定量力學(xué)壓頭,可以同時對樣品及壓頭兩側(cè)進行控溫。在具體操作中,納米力學(xué)臺可以拓展低溫附件,并支持多種掃描電子顯微鏡型號通過這種方式,納米力學(xué)臺得以實現(xiàn)從微觀角度對材料的力學(xué)性能進行精確的分析和評估。納米力學(xué)臺是研究材料變形行為和微觀失效機制的重要工具,可以精確量化微納米級材料的力學(xué)行為,其主要用途包括:掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺:這種樣品臺能原位地觀察和記錄納米材料的力學(xué)性能,為...
了解更多原位掃描電鏡表征技術(shù)是什么?原位掃描電鏡是一種強大的顯微技術(shù),可以實時觀察材料在真實環(huán)境下的微觀行為。原位掃描電鏡基于傳統(tǒng)掃描電鏡,但與普通SEM不同的是,能夠?qū)悠贩胖迷诮咏鋵嶋H使用條件的環(huán)境中進行觀察。這一特點使得研究者能夠直接觀察并分析材料在高溫、低溫、濕度變化等條件下的行為。還可以通過在掃描電鏡內(nèi)部集成其他儀器,如光譜儀、力學(xué)測試系統(tǒng)等,進一步擴展其功能。在材料科學(xué)領(lǐng)域,可以幫助研究人員研究材料的相變、晶體生長、表面形貌演化等過程。研究人員可以觀察金屬在高溫下的晶粒...
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